SJ/T 11705-2018 微电子器件封装的地和电源阻抗测试方法

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  2. 实施于：
  3. 废止

标准详情

  • 中国标准分类号：L55
    国际标准分类号：31.200
  • 提出单位：
    主管部门：全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会

起草单位

中国电子技术标准化研究院、航天电子科技集团公司第七七二研究所、中国电子科技集团公司第十三研究所等

起草人

安琪、林建京、张崤君 等

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