JJF 1254-2010 数显测高仪校准规范

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  • 中国标准分类号：本规范适用于分辨力为0.1μm、0.2μm、0.5μm和1μm，量程0mm至1000mm的数显测高仪的校准。 数显测高仪是基于精密机械、现代传感技术和电子技术的立式单坐标数字化几何量测量仪器，用来测量平行平面之间距离、孔和轴直径、中心距以及相关形位误差等。
    国际标准分类号：
  • 代替标准：JJG 929-1998
  • 提出单位：匡龙(中国科学院光电技术研究所)、耿丽红(中国科学院光电技术研究所)、曹学东(中国科学院光电技术研究所)、冉庆(中国测试技术研究院)
    主管部门：

起草单位

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