SJ/T 11706-2018 半导体集成电路现场可编程门阵列测试方法

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  2. 实施于：
  3. 废止

标准详情

  • 中国标准分类号：L55
    国际标准分类号：31.200
  • 提出单位：
    主管部门：全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会

起草单位

中国电子技术标准化研究院、上海复旦微电子集团股份有限公司、中国科学院电子技术研究所等

起草人

刘芳、尹航、胡海涛 等

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