GB/T 32651-2016 采用高质量分辨率辉光放电质谱法测量太阳能级硅中痕量元素的测试方法

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标准详情

  • 中国标准分类号：H82
    国际标准分类号：29.045
  • 提出单位：
    主管部门：全国半导体设备和材料标准化技术委员会

起草单位

国家太阳能光伏产品质量监督检验中心（无锡市产品质量监督检验中心）、国家硅材料深加工产品质量监督检验中心、中国电子技术标准化研究院、江苏中能硅业科技发展有限公司、江西赛维LDK太阳能高科技有限公司

起草人

何莉、吴建国、刘晓霞、鲁文锋、李建德、黄雪雯、裴会川、王琴、周滢、陈进、封丽娟、孙绍武、冯亚彬

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