SJ/T 11702-2018 半导体集成电路串行外设接口测试方法

行业标准 推荐性 现行
收藏 报错

标准状态

  1. 发布于：
  2. 实施于：
  3. 废止

标准详情

  • 中国标准分类号：L56
    国际标准分类号：31.200
  • 提出单位：
    主管部门：全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会

起草单位

中国电子技术标准化研究院、深圳市国微电子有限公司、北京兆易创新科技股份有限公司

起草人

钟明琛、胡海涛、李秦华 等

标准预览（共 11 页）

5页 预览结束，下载 11页 完整版

* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，版权归原作者所有，如侵犯您的权益，请联系我们处理。

标准网本地下载
  • 标准质量：
  • 文档详情：12.62MB 共 11 页 PDF

标准搜索

相关推荐